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2025-12-26
2019-03-12
2017-07-17
2017-06-27
2017-06-05
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MINITEST4100-EPK測厚儀
MINITEST4100測厚儀是德國EPK研發的精密測量裝置，數據處理功能更強，存儲量更大，應用程序也更多。可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；可使用一片或二片標準箔校準。配有適用于多種應用的耐磨探頭，適用于不同的基材檢測，通用探頭能自動基板檢，快速精準無損測量，耐磨材質保證了探頭的使用壽命。
ElektroPhysik概述：
60多年來，ElektroPhysik已經開發和生產了一系列用于表面處理的精密測量儀器。作為無損涂層厚度測量領域的，ElektroPhysik與和標準化機構，研究機構和大學合作已成功推進了涂層厚度測量的標準化。許多強調了ElektroPhysik作為制造商的地位。
MINITEST4100測厚儀測量模式：
1、連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值
2、連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
3、浮點和定點方式數據傳送
4、組內單值延遲顯示
5、連續測量模式中顯示小值
應用于無損測量：
0 - 50mm鋼無磁性涂料
0 - 100mm有色金屬絕緣涂層
10-200µM絕緣基材銅層
0 - 1600µM鋼和有色金屬粉末涂料
可選探頭：
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F 型 探 頭 ：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 ，磁感應原理
N 型 探 頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 ，渦流法
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能，磁感應/渦流
MINITEST4100統計計算功能：
MINITEST4100其他功能：
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