东北老女人高潮大叫对白,再深点灬舒服灬太大了岳视频,久久亚洲国产成人精品无码区 ,在线视频

歡迎訪問篤摯儀器(上海)有限公司網站,我們竭誠為您提供合格產品和專業的服務!服務熱線:021-58951091
產品分類·product

我們相信合格的產品是信譽的保證!

技術文章/ article

您的位置:首頁  -  技術文章  -  PGI 輪廓儀高精度三維形貌分析信息

PGI 輪廓儀高精度三維形貌分析信息

更新時間:2025-12-19      瀏覽次數:381

輪廓儀代表了表面形貌測量技術的水平,專為高精度、高分辨率的二維/三維輪廓與粗糙度分析而設計。PGI 采用獨特的相位光柵干涉原理結合接觸式探針技術,能夠同時實現納米級垂直分辨率和毫米級測量范圍,在光學元件、半導體、精密軸承及醫療器械等領域具有廣泛應用。

PGI 輪廓儀的核心優勢在于其超高精度與多功能性。其垂直分辨率可達0.1 nm,橫向分辨率優于0.1 µm,可精確捕捉微小表面特征,如劃痕、波紋度、臺階高度等。系統支持全自動測量流程,包括自動調平、自動對焦和路徑規劃,大幅減少人為誤差。配合 Taylor Hobson *的 Metrology 軟件平臺,用戶可進行復雜的形貌分析、濾波處理、參數計算及合規性評估,滿足 ISO 11562、ISO 13565 等國際標準要求。

PGI 系列還提供多種探針配置和可選附件,適用于不同材質和幾何形狀的樣品。其模塊化設計便于升級與維護,支持與其他計量設備集成,構建完整的質量控制體系。

掃碼添加微信

  • 上海市浦東外高橋自貿區富特東三路526號5號樓311室
  • 聯系電話:021-58951091
  • 公司郵箱:2840159840@qq.com

© 2026 篤摯儀器(上海)有限公司(m.tlknw.com) 版權所有    滬ICP備16027846號-5

技術支持:化工儀器網    管理登陸    sitemap.xml

TEL:17321352692

掃碼添加微信