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泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度儀參數(shù)信息

更新時間:2025-11-11      瀏覽次數(shù):362

Surtronic S116 支持多達 30 種粗糙度參數(shù)(包括 Ra、Rz、Rq、Rsk、Rku 等),兼容 ISO 4287/4288、ASME B46.1 等國際規(guī)范,適用于從研發(fā)實驗室到生產(chǎn)一線的各類應用場景。其高分辨率傳感器具備 0.001 μm 的垂直分辨力,配合長達 17.5 mm 的測量行程,可精準捕捉復雜輪廓細節(jié),尤其適合高光潔度或高粗糙度表面的全面評估。

該儀器配備 5 英寸高清彩色觸摸屏,搭載直觀的圖形化操作系統(tǒng),支持實時輪廓顯示、參數(shù)對比及趨勢分析。用戶可通過 Wi-Fi 或 USB 快速導出數(shù)據(jù)至 PC 或云端平臺,無縫對接質(zhì)量管理軟件。內(nèi)置 8 GB 存儲空間,可容納數(shù)萬組測量記錄,并支持 PDF 報告一鍵生成,極大提升工作效率。


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