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泰勒霍普森輪廓儀LUPHOScan HD 信息

更新時間:2025-10-15      瀏覽次數:688

LUPHOScan HD 輪廓儀核心特點

1. 測量原理

基于 多波長干涉技術(MWLI®)

非接觸式干涉掃描,適用于高精度表面形貌重建

2. 適用對象

旋轉對稱表面,包括:

非球面(aspheres)

球面(spheres)

平面(flats)

自由曲面(freeforms,需具備旋轉對稱性)

特別適合 手機鏡頭模具、大口徑光學元件、陡峭曲面 等挑戰性工件

3. 技術優勢

超高坡度容忍度:可測量 高達90°的表面坡度,適用于極陡或深凹結構

材料普適性:支持 透明、鏡面、不透明、拋光或研磨表面,無需特殊涂層

性能指標

高速測量:大幅縮短檢測周期,提升產線效率

極低系統噪聲:確保亞納米級測量穩定性

重復性:Power(低頻誤差)與 PV(峰谷值)參數高度穩定,適合工藝控制與質量追溯

環境魯棒性:系統結構堅固,對溫度波動、振動等環境干擾不敏感

典型應用場景

光學鏡頭(尤其是手機、車載、AR/VR 鏡頭)模具檢測

大口徑天文鏡、激光系統非球面鏡制造

精密光學元件研發與量產質量控制

自由曲面光學(如照明、投影系統)的原型驗證


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