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更新時間：2025-08-22 
瀏覽次數(shù)：543X熒光射線測厚儀XDLM237核心功能：
適用于薄涂層的無損厚度測量和分析，包括低濃度涂層。
可對批量生產(chǎn)的零件和印刷電路板進(jìn)行自動測量。
能無標(biāo)準(zhǔn)地分析涂層系統(tǒng)以及固體和液體樣品（使用費(fèi)舍爾基本參數(shù)法）。
可同時檢測從氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)的多達(dá) 24 種元素。
X熒光射線測厚儀XDLM237性能優(yōu)勢：
采用比例計數(shù)管實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率，保證測量精確性。
孔徑和初級濾波器可電動更換，能為每次測量創(chuàng)造優(yōu)良條件。
具有出色的長期穩(wěn)定性，顯著減少校準(zhǔn)工作。
配備快速、可編程的 X/Y 載物臺，適合自動樣品測量
應(yīng)用領(lǐng)域
量產(chǎn)零件的測量
檢測具有小測量點(diǎn)的薄涂層
電子和半導(dǎo)體行業(yè)中功能涂層的分析
印刷電路板等的自動測量
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