泰勒DUO分體式粗糙度儀信息

更新時間：2025-06-25

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技術參數

測量范圍：粗糙度參數（Ra）up to 40μm，輪廓高度參數（Rz、Rv、Rp、Rt）up to 199μm。

測量重復性：2% of value+noise。

測量精度：5% of reading+0.1μm。

噪聲：0.1μm。

量程：200μm。

行程：5mm。

取樣長度：0.8mm+/-15%。

分辨率：0.01μm。

測量速度：2mm/sec。

極速測量：在實際生產質檢環節，效率與準確性同等重要。泰勒粗糙度儀 DUO 搭載智能感應觸發系統，當測針剛接觸工件表面，儀器便會立即響應，瞬間啟動自動采樣程序，無需手動繁瑣操作。整個測量流程行云流水，單次測量周期更是縮短至 5 秒，極大提升了檢測效率。同時，儀器配備的三鍵式導航菜單設計精巧，操作邏輯簡潔明了，即使是初次接觸的操作人員，也無需經過長時間專業培訓，便能快速上手，輕松完成參數設置、數據查看以及校準等一系列操作。無論是日常的批量質檢，還是臨時抽檢，都能輕松應對，有效節省人力與時間成本。

智能校準：校準作為保證測量精度的關鍵步驟，泰勒粗糙度儀 DUO 提供了靈活且智能的校準方案。它支持自動軟件校準與手動預設標準值校準雙模式。自動軟件校準功能，只需一鍵操作，儀器便能依據內置算法，自動對傳感器和測量系統進行全面校準，整個過程無需人工過多干預，校準完成后結果會即時反饋；而手動預設標準值校準模式，則適用于特定標準要求或特殊使用場景，用戶可根據需求，手動輸入標準值進行校準。值得一提的是，無論采用哪種校準模式，校準狀態都會實時同步顯示在 LCD 顯示屏上，方便用戶隨時掌握校準進度與結果，確保每一次測量數據都精準可靠。

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