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XAN 220 金屬分析 X 射線熒光測量儀信息

更新時間:2025-06-03      瀏覽次數(shù):759
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 是一款專為貴金屬分析優(yōu)化的用戶友好型臺式能量色散 X 射線熒光(EDXRF)測量儀,可對珠寶、硬幣、貴金屬及其合金的成分和涂層厚度進(jìn)行快速無損分析。其創(chuàng)新設(shè)計與智能化功能融合,為實驗室及生產(chǎn)現(xiàn)場提供精準(zhǔn)、高效的檢測解決方案。

核心優(yōu)勢:操作便捷性與技術(shù)先進(jìn)性兼具

1. 人性化結(jié)構(gòu)設(shè)計,試樣定位精準(zhǔn)高效

  • 自下而上測量架構(gòu)
    X 射線源與半導(dǎo)體探測器集成于儀器下腔室,通過透射式窗口支撐樣品,測量方向從樣品下方穿透,無需人工調(diào)整角度,尤其適合戒指、硬幣等不規(guī)則形狀樣品的快速定位。

  • 高清視頻顯微鏡輔助
    內(nèi)置帶變焦功能與十字準(zhǔn)線的視頻顯微鏡,可實時放大樣品細(xì)節(jié)(如珠寶鑲嵌點(diǎn)、硬幣齒紋),精準(zhǔn)鎖定微米級測量區(qū)域,避免因定位偏差導(dǎo)致的檢測誤差。

2. 智能化軟件平臺,全流程無縫管控

  • WinFTM® 專業(yè)分析軟件

    • 一鍵式操作:從測量參數(shù)設(shè)置(30/40/50kV 三檔電壓可調(diào))、數(shù)據(jù)采集到多元素濃度 / 涂層厚度結(jié)果生成全程自動化,兼容固體、液體及多層涂層樣品。

    • 可視化數(shù)據(jù)分析:以圖表形式動態(tài)呈現(xiàn)元素占比(如金、銀、鉑含量)、涂層厚度分布(如銠鍍層均勻性),支持歷史數(shù)據(jù)對比,便于批量樣品質(zhì)量追溯。

    • 合規(guī)性報告生成:內(nèi)置DIN ISO 3497(貴金屬純度測定)與ASTM B 568(鍍層厚度測量)標(biāo)準(zhǔn)模板,自動匹配檢測結(jié)果,簡化第三方認(rèn)證流程。


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